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低溫黑體和大面源黑體

簡要描述:低溫黑體和大面源黑體產品尤其是黑體源大量的應用于美國系統測試及焦平面探測器測試等領域。

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  • 更新時間:2024-09-27
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低溫黑體和大面源黑體美國SBIR紅外公司成立于1986年,經過逾20年的發展,已經成為國際上電光測試裝備的*,所研發產品尤其是黑體源大量的應用于美國紅外系統測試及焦平面探測器測試等領域。其產品性能主要如下:

腔式黑體

低溫黑體

大面源黑體

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